回路電阻測(cè)試儀的三種測(cè)試方法

  回路電阻測(cè)試儀是采用數(shù)字電路技術(shù)和開(kāi)關(guān)電路技術(shù)制作，它是用于開(kāi)關(guān)控制設(shè)備的接觸電阻、回路電阻測(cè)量的設(shè)備。斷路器導(dǎo)電回路電阻主要取決于動(dòng)靜觸頭的接觸電阻，接觸電阻的存在，增大了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時(shí)的載流能力，在一定程度上影響短路電流的切斷能力，也是反映安裝檢修工作質(zhì)量的重要數(shù)據(jù)。
    目前，回路電阻測(cè)試儀的測(cè)試方法主要有三種,具體操作如下：
    1、電橋法：使用雙臂電橋進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量時(shí)，由于測(cè)量回路通過(guò)的是微弱的電流，難以消除電阻較大的氧化膜，測(cè)出的電阻值偏大，而且由于電流小，在其觸頭接觸處難以形成收縮即無(wú)法測(cè)出收縮電阻。
    2、電壓降法：在被測(cè)回路中，通以直流電流時(shí)，在回路接觸電阻上將產(chǎn)生壓降、測(cè)出通過(guò)回路的電流值和電壓值，計(jì)算出接觸電阻。測(cè)試過(guò)程煩瑣，人工計(jì)算測(cè)量結(jié)果，存在一定的誤差。
    3、微歐儀法（回路電阻測(cè)試儀）：原理是電壓降原理，只是測(cè)量、計(jì)算等方面全用單片機(jī)處理，大大減少了工作量。